et Solutions Statistiques
Société
La société Ippon Innovation dont le siège est basé à Toulouse a été créée par François Bergeret, docteur en statistique de l’université Paul Sabatier. Ayant occupé divers postes en R&D, production et qualité pendant 15 ans au sein de Motorola et Freescale (maintenant NXP), il est Master Black Belt et chargé de cours en statistique dans de nombreuses entreprises ainsi que dans les grandes écoles et universités.
Ippon Innovation est maintenant une équipe de Data Scientists de haut niveau travaillant dans l’électronique, le médical, l’aéronautique et le spatial, l’industrie agroalimentaire...
Ippon Innovation développe entre autres des solutions d'optimisation des procédés, de détection de pièces défaillantes et de réduction des temps de test basés sur des algorithmes statistiques avancés.
Notre partenaire SIEMENS industrialise et commercialise nos solutions dans le domaine du semiconducteur.
Ippon Learning propose aussi du conseil et de la formation en statistique (plans d'expérience, modélisation, data science ...), en Lean Six Sigma (Black Belt, Green Belt), en outils qualité (AMDEC, résolution de problème ...) et en métrologie (ISO17020, ISO17025 ...).
Pour ses travaux de Recherche & Développement, Ippon Innovation bénéficie par ailleurs de l'aide de la région Midi-Pyrénées et de l'Europe et d'une collaboration étroite et continue avec l'Université de Toulouse et le département de Génie Mathématique de l'INSA.
Ippon est accrédité CIR.
Ippon Innovation et Ippon Learning sont spécialistes du logiciel statistique JMP avec du développement de solutions clés en main, du conseil et de la formation.
Ils nous font confiance :
Solutions
Ippon propose des solutions innovantes pour améliorer la fiabilité de vos produits,les rendements et les coûts de fabrication.
Défaut TAG peut réduire
de 20% à 30%
les incidents qualité.
TAG utilise un algorithme multivarié qui permet d'identifier des pièces atypiques dans de gros fichiers de données issus du contrôle qualité.
TAG est utilisé quand la détection d'atypiques est critique pour des raisons de fiabilité ou de sécurité comme dans l'industrie automobile par exemple.
Développé conjointement avec l'université et l'institut mathématique de Toulouse, c'est une rupture technologique pour le zéro défaut.
GAT est conçu pour analyser des petits échantillons en grande dimension : HDLSS (high dim low sample size).
Son objectif est de sélectionner les meilleures pièces en termes de fiabilité.
GAT utilise un double algorithme pour conserver le coeur de la distribution, les pièces les plus fiables.
…industriels complexes.
Il est basé sur une série d'analyses statistiques adaptées à tout type de paramètres d'entrée ou de sortie de procédé, incluant le rendement et le contrôle qualité.
Plusieurs points de rendement ont été gagnés avec YETI dans les semiconducteurs, l'industrie pharmaceutique et l'industrie de défense.
CHAM est une solution développée par ippon innovation pour détecter des anomalies mineures sur les courbes issues de capteurs, les paramètres d'équipement de production ou de métrologie ou tout autre signal.
L'analyse statistique peut se faire sur des courbes temporelles, de multiples paramètres ou tout signal simple ou complexe.
Learning
Lean Six Sigma
Green Belt ou Black Belt Six Sigma avec certificationFormation pour Managers Six SigmaCoaching sur des projets Lean ou Six SigmaStatistique et Logiciels
Plans d'expérienceStatistique IndustrielleData ScienceLogiciels Statistiques (R et Python)Fondamentaux de JMP et langage JSLMSP/SPCQualité et Métrologie
AMDEC (Analyse des Modes de Défaillance, Effets et Criticité)8D (Résolution de Problèmes en Equipe)Outils de la QualitéNormes Qualité : ISO 9001, ISO/TS 16949Métrologie industrielle et Etude d'IncertitudeNormes Métrologie : ISO 17020, ISO 17025Autres Prestations
Etudes EconométriquesSondages 
en intra-entreprises ou en e-learning.
Téléchargez le catalogue ou contactez nous.
NEWS
Les dernières infos, actualitées, événements d'Ippon
10 ans !
Ippon a 10 ans cet été, nous sommes maintenant une équipe de 6 statisticiens et continuons à développer nos prestations statistiques et solutions innovantes pour la haute fiabilité.
01.09.2017
GAT MMR
Présentation de l’algorithme GAT pour la détection d’objets atypiques en grande dimension et petits échantillons par une méthode non supervisée à la conférence MMR (http://mmr2017.imag.fr/). Papier disponible sur demande.
05.07.2017
big data
Nous avons analysé avec succès des données fonctionnelles d’essais en vol et livré un outil de détection automatique de vols atypiques.
10.06.2017
Contact
Ippon Innovation
Bureaux : 8 esplanade compans caffarelli
31000 Toulouse,
France
33 (0)6 72 05 62 76
admin@ippon-innov.eu