
Société
La société Ippon Innovation dont le siège est basé à Toulouse a été créée par François Bergeret, docteur en statistique de l’université de Toulouse, qui a occupé divers postes en R&D, production et qualité pendant 15 ans au sein de Motorola et Freescale (maintenant NXP). Ippon a des liens très forts avec Galaxy Semiconductor qui industrialise et commercialise les solutions pour la microélectronique.
Ippon Innovation est maintenant une équipe de Data Scientists de haut niveau travaillant dans l’électronique, le médical, l’aéronautique et le spatial, l’industrie agroalimentaire...
Ippon Innovation développe entre autres des solutions d'optimisation des procédés, de détection de pièces défaillantes et de réduction des temps de test basés sur des algorithmes statistiques avancés.
Ippon Learning propose aussi du conseil et de la formation en statistique (plans d'expérience, modélisation, data science ...), en Lean Six Sigma (Black Belt, Green Belt), en outils qualité (AMDEC, résolution de problème ...) et en métrologie (ISO17020, ISO17025 ...).
Pour ses travaux de Recherche & Développement, Ippon Innovation bénéficie par ailleurs de l'aide de la région Midi-Pyrénées et de l'Europe et d'une collaboration étroite et continue avec l'Université de Toulouse et le département de Génie Mathématique de l'INSA.
Ippon est accrédité CIR.
Ippon Innovation et Ippon Learning sont « JMP business partner » ( www.jmp.com) avec du développement de solutions clés en main, du conseil et de la formation.
Ils nous font confiance :





















Solutions
Ippon propose des solutions innovantes pour améliorer la fiabilité de vos produits,les rendements et les coûts de fabrication.
L'objectif de GAT est de détecter des anomalies par des techniques d'outlier ensembles (aggrégation d'anomalies).
GAT est conçu pour analyser des données de toute dimension, y compris des petits échantillons en grande dimension : HDLSS (high dim low sample size).
GAT utilise un double algorithme non supervisé pour identifier les éléments atypiques, les pièces anormales et peut être appliqué dans de multiples domaines.
Développé avec l'université de Toulouse, c'est une rupture technologique pour la haute fiabilité et le zéro défaut.
…industriels complexes.
Il est basé sur une série d'analyses statistiques adaptées à tout type de paramètres d'entrée ou de sortie de procédé, incluant le rendement et le contrôle qualité.
Plusieurs points de rendement ont été gagnés avec YETI dans les semiconducteurs, l'industrie pharmaceutique et l'industrie de défense.
CHAM est une solution développée par ippon innovation pour détecter des anomalies sur les courbes issues de capteurs, les paramètres d'équipement de production ou de métrologie ou tout autre signal faible.
L'analyse statistique se fait sur des courbes temporelles, de multiples paramètres ou tout signal simple ou complexe, en particulier des images.

Learning






Lean Six Sigma et Métrologie






NEWS
Les dernières infos, actualitées, événements d'Ippon

microelectronique
Nos modèles de Machine Learning vont permettre de réduire les tests chez un acteur majeur microélectronique.
01.02.2023

AERONAUTIQUE
Nos solutions de contrôle statistique en place chez un acteur majeur du test des cartes et boîtiers aéronautiques.
02.01.2023

cham
CHAM en production pilote dans une usine européenne ! Technologies Si et SiC.
15.12.2022

NOUVEAUx BUREAUx
Notre équipe est fière d’inaugurer et accueillir ses clients dans nos nouveaux bureaux au centre de Toulouse.
01.10.2021

Region occitanie
Les brevets de nos solutions GAT et CHAM, de détection de pièces et de courbes atypiques issues de capteurs, sont en phase d’extension internationale. Nous remercions la région Occitanie pour son support.
12.04.2022

FORMATIONS ANSM
Notre série de formations statistiques pour l’ANSM (Agence Nationale de Sécurité du Médicament) a commencé en septembre
15.09.2021

Vitrine industrie du futur
Notre client SOITEC a reçu le trophée "Vitrine Industrie du Futur" en particulier pour l’amélioration des rendements sur lesquels ippon a travaillé !