Société
La société Ippon Innovation dont le siège est basé à Toulouse a été créée par François Bergeret, docteur en statistique de l’université de Toulouse, qui a occupé divers postes en R&D, production et qualité pendant 15 ans au sein de Motorola et Freescale (maintenant NXP). Ippon a des liens très forts avec Galaxy Semiconductor qui industrialise et commercialise les solutions pour la microélectronique.
Ippon Innovation est maintenant une équipe de Data Scientists de haut niveau travaillant dans l’électronique, le médical, l’aéronautique et le spatial, l’industrie agroalimentaire...
Ippon Innovation développe des solutions d'optimisation des procédés et de détection de pièces défaillantes.
Ippon Innovation est maintenant avec Galaxy, qui commercialise et industrialise nos solutions avancées dans la microélectronique.
Ippon Learning propose aussi du conseil et de la formation en statistique (plans d'expérience, modélisation, data science ...), en Lean Six Sigma (Black Belt, Green Belt), en outils qualité (AMDEC, résolution de problème ...) et en métrologie (ISO17020, ISO17025 ...).
Pour ses travaux de Recherche & Développement, Ippon Innovation bénéficie par ailleurs de l'aide de la région Occitanie et de l'Europe et d'une collaboration étroite et continue avec l'Université et l'institut de Mathématiques de Toulouse.
Ippon est accrédité CIR.
Ippon Innovation et Ippon Learning sont « JMP business partner » avec du développement de solutions clés en main, du conseil et de la formation.
Ils nous font confiance :
Solutions
Ippon propose des solutions innovantes pour améliorer la fiabilité de vos produits,les rendements et les coûts de fabrication.
L'objectif de GAT est de détecter des anomalies par des techniques d'outlier ensembles (aggrégation d'anomalies).
GAT est conçu pour analyser des données de toute dimension, y compris des petits échantillons en grande dimension : HDLSS (high dim low sample size).
GAT utilise un double algorithme non supervisé pour identifier les éléments atypiques, les pièces anormales et peut être appliqué dans de multiples domaines.
Développé avec l'université de Toulouse, c'est une rupture technologique pour la haute fiabilité et le zéro défaut.
…industriels complexes.
Il est basé sur une série d'analyses statistiques adaptées à tout type de paramètres d'entrée ou de sortie de procédé, incluant le rendement et le contrôle qualité.
Plusieurs points de rendement ont été gagnés avec YETI dans les semiconducteurs, l'industrie pharmaceutique et l'industrie de défense.
CHAM est une solution développée par ippon innovation pour détecter des anomalies sur les courbes issues de capteurs, les paramètres d'équipement de production ou de métrologie ou tout autre signal faible.
L'analyse statistique se fait sur des courbes temporelles, de multiples paramètres ou tout signal simple ou complexe, en particulier des images.
Learning
Statistique et modélisationData ScienceDétection d'outliersPlans d'expérienceMaîtrise Statistique des ProcédésFondamentaux de JMP et langage JSLLean Six Sigma et Métrologie
Green Belt et Black Belt avec certification IASSCDesign For Six Sigma - DFSSAnalyse des Systèmes de Mesure et MétrologieNormes Métrologie : ISO 17020, ISO 17025
en intra-entreprises ou en e-learning.
Téléchargez le catalogue ou contactez nous.
NEWS
Les dernières infos, actualitées, événements d'Ippon
Livraison d’outils statistiques
Livraison à ITEN d’une solution d’extraction intuitive et d’outils de visualisation personnalisés pour le contrôle statistique de données industrielles
20.06.2024
Metrologie virtuelle
A l’aide des données FDC d’épitaxie, nous avons appliqué une régression fonctionnelle multivariée pour développer un nouveau modèle prédisant l’épaisseur. Il a été présenté à la conférence avec Galaxy Semiconductor et STMicroelectronics
10.04.2024
Brevet CHAM
Le brevet pour notre méthode CHAM de détection d’atypiques multivariés sur données fonctionnelles a été obtenu en France. Extensions internationales en cours.